Sinopse

Este livro foi concebido como material de apoio para o ensino da metrologia, para atender às necessidades dos cursos de graduação e pós-graduação em engenharia, ciências exatas e afins. Tornou-se também um material de apoio para cursos de educação continuada e para pessoas autodidatas.

"Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial" resultou de notas de aula compiladas ao longo de quase 20 anos de atividades docentes dos autores. A apresentação dos tópicos segue uma sequência progressiva e intuitiva, desenhada para favorecer a compreensão do assunto e conduzir o leitor à aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.

Complementa este livro o conteúdo digital no site ["www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI"]:www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI, contendo os slides para PowerPoint, usados pelos autores para ministrar os conteúdos de cada capítulo e alguns programas de computador que simulam ambientes virtuais para a realização de exercícios e trabalhos interativos.

Esta obra foi finalista do Prêmio Jabuti 2009 na categoria Melhor Livro de Ciências Exatas, Tecnologia e Informática.